8V182512IDGGREP

Abbildungen dienen nur als Referenz

8V182512IDGGREP

+Stückliste

IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP

365 Tage Qualitätsgarantie

7*24 Stunden-Servicegarantie

90-Tage Kundendienstgarantie

Originalproduktgarantie

Spezifikationen

Attribut Wert
Supplier Texas Instruments
Package Tape & Reel (TR),Cut Tape (CT)
ProductStatus Active
LogicType ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
SupplyVoltage 2.7V ~ 3.6V
NumberofBits 18
OperatingTemperature -40°C ~ 85°C
MountingType Surface Mount
Package/Case 64-TFSOP (0.240, 6.10mm Width)

Produkte, die mit 8V182512IDGGREP zusammenhängen

  • Schnellangebot

  • Senden Sie Ihre Angebotsanfrage für 8V182512IDGGREP Mit diesem Formular können Sie uns innerhalb von 12 Stunden kontaktieren.