SN74LVTH182502APMR

Abbildungen dienen nur als Referenz

SN74LVTH182502APMR

+Stückliste

IC SCAN-TEST-DEV/TRANSCVR 64LQFP

365 Tage Qualitätsgarantie

7*24 Stunden-Servicegarantie

90-Tage Kundendienstgarantie

Originalproduktgarantie

Spezifikationen

Attribut Wert
Supplier Texas Instruments
Package / Case Tape & Reel (TR),Cut Tape (CT)
Series 74LVTH
Part Status Active
Logic Type ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
Voltage - Supply 2.7V ~ 3.6V
Number of Bits 18
Operating Temperature -40°C ~ 85°C
Mounting Type Surface Mount

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