SN74LVTH18502APMG4

Abbildungen dienen nur als Referenz

SN74LVTH18502APMG4

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IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP

365 Tage Qualitätsgarantie

7*24 Stunden-Servicegarantie

90-Tage Kundendienstgarantie

Originalproduktgarantie

Spezifikationen

Attribut Wert
Supplier Texas Instruments
Package / Case Tray
Series 74LVTH
Part Status Obsolete
Logic Type ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
Voltage - Supply 2.7V ~ 3.6V
Number of Bits 18
Operating Temperature -40°C ~ 85°C
Mounting Type Surface Mount

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