SN74ABT18245ADLR

Abbildungen dienen nur als Referenz

SN74ABT18245ADLR

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IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP

365 Tage Qualitätsgarantie

7*24 Stunden-Servicegarantie

90-Tage Kundendienstgarantie

Originalproduktgarantie

Spezifikationen

Attribut Wert
Supplier Texas Instruments,Rochester Electronics, LLC
Package / Case Tape & Reel (TR),Cut Tape (CT),Bulk
Series 74ABT
Part Status Active
Logic Type Scan Test Device with Bus Transceivers
Voltage - Supply 4.5V ~ 5.5V
Number of Bits 18
Operating Temperature -40°C ~ 85°C
Mounting Type Surface Mount

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