SN74ABT18502PM

Abbildungen dienen nur als Referenz

SN74ABT18502PM

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IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP

365 Tage Qualitätsgarantie

7*24 Stunden-Servicegarantie

90-Tage Kundendienstgarantie

Originalproduktgarantie

Spezifikationen

Attribut Wert
Supplier Rochester Electronics, LLC,Texas Instruments
Package / Case Bulk,Tray
Series 74ABT
Part Status Active
Logic Type Scan Test Device with Registered Bus Transceiver
Voltage - Supply 4.5V ~ 5.5V
Number of Bits 18
Operating Temperature -40°C ~ 85°C
Mounting Type Surface Mount

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