SN74ABT18640DGGR

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SN74ABT18640DGGR

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IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP

365 Tage Qualitätsgarantie

7*24 Stunden-Servicegarantie

90-Tage Kundendienstgarantie

Originalproduktgarantie

Spezifikationen

Attribut Wert
Supplier Texas Instruments
Package / Case Tape & Reel (TR),Cut Tape (CT)
Series 74ABT
Part Status Obsolete
Logic Type Scan Test Device with Inverting Bus Transceivers
Voltage - Supply 4.5V ~ 5.5V
Number of Bits 18
Operating Temperature -40°C ~ 85°C
Mounting Type Surface Mount

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