SN74ABT18646PM

Abbildungen dienen nur als Referenz

SN74ABT18646PM

+Stückliste

IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP

365 Tage Qualitätsgarantie

7*24 Stunden-Servicegarantie

90-Tage Kundendienstgarantie

Originalproduktgarantie

Spezifikationen

Attribut Wert
Supplier Rochester Electronics, LLC,Texas Instruments
Package / Case Bulk,Tray
Series 74ABT
Part Status Active
Logic Type Scan Test Device With Transceivers And Registers
Voltage - Supply 4.5V ~ 5.5V
Number of Bits 18
Operating Temperature -40°C ~ 85°C
Mounting Type Surface Mount

Produkte, die mit SN74ABT18646PM zusammenhängen

  • Schnellangebot

  • Senden Sie Ihre Angebotsanfrage für SN74ABT18646PM Mit diesem Formular können Sie uns innerhalb von 12 Stunden kontaktieren.