SN74ABT8245DWR

Abbildungen dienen nur als Referenz

SN74ABT8245DWR

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IC SCAN TEST DEV W/OBT 24-SOIC

365 Tage Qualitätsgarantie

7*24 Stunden-Servicegarantie

90-Tage Kundendienstgarantie

Originalproduktgarantie

Spezifikationen

Attribut Wert
Supplier Texas Instruments,Rochester Electronics, LLC
Package / Case Tape & Reel (TR),Cut Tape (CT),Bulk
Series 74ABT
Part Status Active
Logic Type Scan Test Device with Bus Transceivers
Voltage - Supply 4.5V ~ 5.5V
Number of Bits 8
Operating Temperature -40°C ~ 85°C
Mounting Type Surface Mount

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