SN74ABT8245DWR

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SN74ABT8245DWR

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IC SCAN TEST DEV W/OBT 24-SOIC

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Originalproduktgarantie

Spezifikationen

Attribut Wert
Supplier Texas Instruments,Rochester Electronics, LLC
Package Tape & Reel (TR),Cut Tape (CT),Bulk
Series 74ABT
ProductStatus Active
LogicType Scan Test Device with Bus Transceivers
SupplyVoltage 4.5V ~ 5.5V
NumberofBits 8
OperatingTemperature -40°C ~ 85°C
MountingType Surface Mount
Package/Case 24-SOIC (0.295, 7.50mm Width)

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