Abbildungen dienen nur als Referenz
SN74ABT8652DWR
+StücklisteIC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
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HerstellerTexas Instruments
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Herstellerteil #SN74ABT8652DWR
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Datenblatt SN74ABT8652DWR DataSheet
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Auf Lager7523
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Spezifikationen
| Attribut | Wert |
| Supplier | Texas Instruments,Rochester Electronics, LLC |
| Package | Tape & Reel (TR),Bulk |
| Series | 74ABT |
| ProductStatus | Obsolete |
| LogicType | Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers |
| SupplyVoltage | 4.5V ~ 5.5V |
| NumberofBits | 8 |
| OperatingTemperature | -40°C ~ 85°C |
| MountingType | Surface Mount |
| Package/Case | 28-SOIC (0.295, 7.50mm Width) |