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SN74ABT8952DL
+StücklisteIC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP
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HerstellerTexas Instruments
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Herstellerteil #SN74ABT8952DL
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Datenblatt SN74ABT8952DL DataSheet
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Auf Lager9948
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Originalproduktgarantie
Spezifikationen
| Attribut | Wert |
| Supplier | Rochester Electronics, LLC,Texas Instruments |
| Package | Tube,Tube |
| Series | 74ABT |
| ProductStatus | Obsolete |
| LogicType | Scan Test Device with Registered Bus Transceiver |
| SupplyVoltage | 4.5V ~ 5.5V |
| NumberofBits | 8 |
| OperatingTemperature | -40°C ~ 85°C |
| MountingType | Surface Mount |
| Package/Case | 28-BSSOP (0.295, 7.50mm Width) |