Abbildungen dienen nur als Referenz
SN74ABT8952DWR
+StücklisteIC SCAN TEST DEVICE 28SOIC
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HerstellerTexas Instruments
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Herstellerteil #SN74ABT8952DWR
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Paket SOIC-28
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Auf Lager3110
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Originalproduktgarantie
Spezifikationen
| Attribut | Wert |
| Package / Case | Tape & Reel (TR),Cut Tape (CT),Bulk |
| Series | 74ABT |
| Part Status | Obsolete |
| Logic Type | Scan Test Device with Registered Bus Transceiver |
| Voltage - Supply | 4.5V ~ 5.5V |
| Number of Bits | 8 |
| Operating Temperature | -40°C ~ 85°C |
| Mounting Type | Surface Mount |
