SN74ABTH18646APM

Abbildungen dienen nur als Referenz

SN74ABTH18646APM

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IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP

  • HerstellerTexas Instruments

  • Herstellerteil #SN74ABTH18646APM

  • Paket 64-LQFP

  • Auf Lager9891

365 Tage Qualitätsgarantie

7*24 Stunden-Servicegarantie

90-Tage Kundendienstgarantie

Originalproduktgarantie

Spezifikationen

Attribut Wert
Supplier Texas Instruments
Package Tray
Series 74ABTH
ProductStatus Active
LogicType Scan Test Device With Transceivers And Registers
SupplyVoltage 4.5V ~ 5.5V
NumberofBits 18
OperatingTemperature -40°C ~ 85°C
MountingType Surface Mount
Package/Case 64-LQFP

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