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SN74ABTH18646APM
+StücklisteIC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
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HerstellerTexas Instruments
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Herstellerteil #SN74ABTH18646APM
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Paket LQFP-64
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Auf Lager9891
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Originalproduktgarantie
Spezifikationen
| Attribut | Wert |
| Supplier | Texas Instruments |
| Package / Case | Tray |
| Series | 74ABTH |
| Part Status | Active |
| Logic Type | Scan Test Device With Transceivers And Registers |
| Voltage - Supply | 4.5V ~ 5.5V |
| Number of Bits | 18 |
| Operating Temperature | -40°C ~ 85°C |
| Mounting Type | Surface Mount |
