Abbildungen dienen nur als Referenz
SN74BCT8244ADWR
+StücklisteIC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
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HerstellerTexas Instruments
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Herstellerteil #SN74BCT8244ADWR
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Datenblatt SN74BCT8244ADWR DataSheet
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Auf Lager8267
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Originalproduktgarantie
Spezifikationen
| Attribut | Wert |
| Supplier | Texas Instruments,Rochester Electronics, LLC |
| Package | Tape & Reel (TR),Bulk |
| Series | 74BCT |
| ProductStatus | Discontinued at Digi-Key |
| LogicType | Scan Test Device with Buffers |
| SupplyVoltage | 4.5V ~ 5.5V |
| NumberofBits | 8 |
| OperatingTemperature | 0°C ~ 70°C |
| MountingType | Surface Mount |
| Package/Case | 24-SOIC (0.295, 7.50mm Width) |