SN74BCT8245ADWR

Abbildungen dienen nur als Referenz

SN74BCT8245ADWR

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IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

365 Tage Qualitätsgarantie

7*24 Stunden-Servicegarantie

90-Tage Kundendienstgarantie

Originalproduktgarantie

Spezifikationen

Attribut Wert
Supplier Texas Instruments
Package / Case Tape & Reel (TR),Cut Tape (CT)
Series 74BCT
Part Status Active
Logic Type Scan Test Device with Bus Transceivers
Voltage - Supply 4.5V ~ 5.5V
Number of Bits 8
Operating Temperature 0°C ~ 70°C
Mounting Type Surface Mount

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