Abbildungen dienen nur als Referenz
SN74BCT8245ANT
+StücklisteIC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP
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HerstellerTexas Instruments
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Herstellerteil #SN74BCT8245ANT
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Datenblatt SN74BCT8245ANT DataSheet
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Paket DIP-24
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Auf Lager2401
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Originalproduktgarantie
Spezifikationen
| Attribut | Wert |
| Supplier | Rochester Electronics, LLC,Texas Instruments |
| Package / Case | Tube,Tube |
| Series | 74BCT |
| Part Status | Obsolete |
| Logic Type | Scan Test Device with Bus Transceivers |
| Voltage - Supply | 4.5V ~ 5.5V |
| Number of Bits | 8 |
| Operating Temperature | 0°C ~ 70°C |
| Mounting Type | Through Hole |