SN74BCT8373ADWR

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SN74BCT8373ADWR

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IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

365 Tage Qualitätsgarantie

7*24 Stunden-Servicegarantie

90-Tage Kundendienstgarantie

Originalproduktgarantie

Spezifikationen

Attribut Wert
Supplier Texas Instruments,Rochester Electronics, LLC
Package / Case Tape & Reel (TR),Bulk
Series 74BCT
Part Status Obsolete
Logic Type Scan Test Device with D-Type Latches
Voltage - Supply 4.5V ~ 5.5V
Number of Bits 8
Operating Temperature 0°C ~ 70°C
Mounting Type Surface Mount

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