SN74BCT8373ANT

Abbildungen dienen nur als Referenz

SN74BCT8373ANT

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IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP

365 Tage Qualitätsgarantie

7*24 Stunden-Servicegarantie

90-Tage Kundendienstgarantie

Originalproduktgarantie

Spezifikationen

Attribut Wert
Supplier Rochester Electronics, LLC,Texas Instruments
Package / Case Tube,Tube
Series 74BCT
Part Status Obsolete
Logic Type Scan Test Device with D-Type Latches
Voltage - Supply 4.5V ~ 5.5V
Number of Bits 8
Operating Temperature 0°C ~ 70°C
Mounting Type Through Hole

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