SN74BCT8374ADWR

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SN74BCT8374ADWR

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IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

365 Tage Qualitätsgarantie

7*24 Stunden-Servicegarantie

90-Tage Kundendienstgarantie

Originalproduktgarantie

Spezifikationen

Attribut Wert
Supplier Texas Instruments
Package Tape & Reel (TR)
Series 74BCT
ProductStatus Obsolete
LogicType Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
SupplyVoltage 4.5V ~ 5.5V
NumberofBits 8
OperatingTemperature 0°C ~ 70°C
MountingType Surface Mount
Package/Case 24-SOIC (0.295, 7.50mm Width)

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