Abbildungen dienen nur als Referenz
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
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HerstellerTexas Instruments
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Herstellerteil #SN74BCT8374ANTG4
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Datenblatt SN74BCT8374ANTG4 DataSheet
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Paket DIP-24
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Auf Lager4805
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Originalproduktgarantie
Spezifikationen
| Attribut | Wert |
| Supplier | Texas Instruments |
| Package / Case | Tube |
| Series | 74BCT |
| Part Status | Obsolete |
| Logic Type | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops |
| Voltage - Supply | 4.5V ~ 5.5V |
| Number of Bits | 8 |
| Operating Temperature | 0°C ~ 70°C |
| Mounting Type | Through Hole |
