SN74LVTH18504APM

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SN74LVTH18504APM

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IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP

365 Tage Qualitätsgarantie

7*24 Stunden-Servicegarantie

90-Tage Kundendienstgarantie

Originalproduktgarantie

Spezifikationen

Attribut Wert
Supplier Rochester Electronics, LLC,Texas Instruments
Package Bulk,Tray
Series 74LVTH
ProductStatus Active
LogicType ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
SupplyVoltage 2.7V ~ 3.6V
NumberofBits 20
OperatingTemperature -40°C ~ 85°C
MountingType Surface Mount
Package/Case 64-LQFP

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